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In: 30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-30) March 4-6 Freiburg im Breisgau Germany 2018.

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In: 10th IEEE Symposium Series on Computational Intelligence (SSCI). IEEE Symposium Series on Computational Intelligence (SSCI-10) 10th November 27-December 1 Honolulu Hawaii United States 2017.

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In: 23rd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC). Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC-23) 23rd January 22-25 Jeju South Korea 2018.

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In: 26th IEEE Asian Test Symposium (ATS). Asian Test Symposium (ATS-26) November 27-30 Taipei Taiwan 2017.

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In: 30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-30) 30th October 23-25 Cambridge United Kingdom 2017.

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In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21) 21st May 24-27 Amsterdam Netherlands 2016.

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In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21) 21st May 24-27 Amsterdam Netherlands 2016.

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In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28) March 6-8 Siegen Germany 2016.

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In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28) March 6-8 Siegen Germany 2016.

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German Research Center for Artificial Intelligence
Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz