Publikation

Hohe Testmengenkompaktierung durch formale Optimierungstechniken

Stephan Eggersglüß, Kenneth Schmitz, Rene Krenz-Baath, Rolf Drechsler

In: ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen - Proceedings. GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-14) 26. February 23-25 Bad Staffelstein Germany 2014.

Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz
German Research Center for Artificial Intelligence