Publikationen

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Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler
Enhanced Embedded Test Compression Technique For Processing Incompressible Test Patterns
In: 31.GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Krishnendu Chakrabarty; Rolf Drechsler
Machine Learning-based Prediction of Test Power
In: 24th IEEE European Test Symposium (ETS 19). IEEE European Test Symposium (ETS-2019), May 27-31, Baden Baden, Germany, 2019.
Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler; Mehdi Dehbashi; Ulrike Pfannkuchen
ATPG Constraint Analysis for Reducing Regional Power Activity
In: 30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Krishnendu Chakrabarty; Rolf Drechsler
Optimization of Retargeting for IEEE 1149.1 TAP Controllers with Embedded Compression
In: Design, Automation and Test in Europe (DATE). Design, Automation & Test in Europe (DATE-2017), March 27-31, Lausanne, Switzerland, 2017.
Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Mehdi Dehbashi; Ulrike Pfannkuchen; Rolf Drechsler
Machine Learning Based Test Pattern Analysis for Localizing Critical Power Activity Areas
In: 30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect …
Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler
Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE-1149.1-kompatible Testschnittstellen
In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und …
Stephan Eggersglüß
Eliminierung von energieunsicheren Tests in kompakten Testmengen
In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und …
Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler
VecTHOR: Low-cost compression architecture for IEEE-1149.1-compliant TAP controllers
In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21), 21st, May 24-27, Amsterdam, Netherlands, 2016.
Stephan Eggersglüß; Kohei Miyase; Xiaoqing Wen
SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation
In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21), located at 21st, May 24-27, Amsterdam, Netherlands, 2016.
Stephan Eggersglüß; Kenneth Schmitz; Rene Krenz-Baath; Rolf Drechsler
On Optimization-based ATPG and its Application for Highly Compacted Test Sets
In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), 2016.