Publikationen

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Payam Habiby; Fatemeh Shirinzadeh; Rolf Drechsler
An Evolutionary Approach to Reconfigurable Scan Network Design
In: 36. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
Payam Habiby; Fatemeh Shirinzadeh; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
A Multi-Objective Evolutionary Approach for Test Network Design
In: IEEE 29th European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-2024), May 20-24, Den Haag, Netherlands, 2024.
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Remote Configuration Methodology for IEEE 1687 Scan Networks
In: 35. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
Payam Habiby; Natalia Lylina; Chih-Hao Wang; Hans-Joachim Wunderlich; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Synthesis of IJTAG Networks for Multi-Power Domain Systems on Chips
In: 28th IEEE European Test Symposium 2023. IEEE European Test Symposium (ETS-2023), May 22-26, Venice, Italy, 2023.
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
RC-IJTAG: A Methodology for Designing Remotely-Controlled IEEE 1687 Scan Networks
In: 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect …
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
An ILP-based Global Optimum Test Scheduler for IEEE 1687 Multi-Power Domain Networks
In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Power-aware Test Scheduling Framework for IEEE 1687 Multi-Power Domain Networks using Formal Techniques
In: Dr. M. Hashimoto (Hrsg.). Microelectronics Reliability, Pages 01-11, Elsevier, 2022.
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Optimization-based Test Scheduling for IEEE 1687 Multi-Power Domain Networks Using Boolean Satisfiability
In: 16th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). International Conference on Design & …
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Power-aware Test Scheduling for IEEE 1687 Networks with Multiple Power Domains
In: 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 2020. IEEE International Symposium on Defect …