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In: 30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-2017) October 23-25 Cambridge United Kingdom 2017.

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In: 26th IEEE Asian Test Symposium (ATS). Asian Test Symposium (ATS-26) November 27-30 Taipei Taiwan 2017.

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In: 29. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2017) March 5-7 Lübeck Germany 2017.

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Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz
German Research Center for Artificial Intelligence