Publikation

A Codeword-based Compaction Technique for On-Chip Generated Debug Data Using Two-Stage Artificial Neural Networks

Sebastian Huhn, Marcel Merten, Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

In: 30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-30) March 4-6 Freiburg im Breisgau Germany 2018.

Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz
German Research Center for Artificial Intelligence