In: Rolf Drechsler; Christina Plump; Martha Schnieber (Hrsg.). 33th IEEE Asian Test Symposium (ATS 2024). Asian Test Symposium (ATS-2025), December 17-20, Ahmedabad, India, 2024.
Sabine Blaschke; Harald Dormann; Rajan Somasundaram; Christoph Dodt; Ingo Graeff; Hans-Jörg Busch; Bernadett Erdmann; Marc Wieckenberg; Christoph Haedicke; Katrin Esslinger; Elisabeth Nyoungui; Tim Friede; Felix Walcher; Julia Talamo; Julia K. Wolff; OPTINOFA Study Group; Wilhelm Behringer; Ulrich Heida; Thomas Ruhnke; Christian Günster; Patrik Dröge; Michael Schmucker; Martin Haag; Michael Dietrich; Wiebke Schirrmeister; Felix Greiner; Paul Ludolph; Hans-Dieter Nolting; Kerstin Pischek-Koch; Stefanie Wache; Irina Chaplinskaya-Sobol; Dagmar Krefting; Kai Antweiler; Eva Hummers; Marina Karg; Jennifer Lenz; Kathrein Munski; Andreas Brockmann; Wiebke Boehne; Heike Teupe