Stephan Baier; Sebastian Dunzer; Peter Fettke; Constantin Houy; Martin Matzner; Peter Pfeiffer; Jana-Rebecca Rehse; Martin Scheid; Sebastian Stephan; Matthias Stierle; Brian Willems
In: Thomas Luhmann; Christina Schumacher (Hrsg.). Photogrammetrie-Laserscanning Optische 3D-Messtechnik. Oldenburger 3D-Tage (DOL-2020), February 2-3, …
Philipp M Grulich; Sebastian Breß; Steffen Zeuch; Jonas Traub; Janis von Bleichert; Zongxiong Chen; Tilmann Rabl; Volker Markl