Publikation
Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler
In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28), March 6-8, Siegen, Germany, 2016.
@inproceedings{pub8182, author = { Huhn, Sebastian and Eggersglüß, Stephan and Drechsler, Rolf }, title = {Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE-1149.1-kompatible Testschnittstellen}, booktitle = {28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28), March 6-8, Siegen, Germany}, year = {2016} }
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