IR-drop Prediction of Test Patterns Using Parasitic Elements

@inproceedings{pub10213,
    author = {

Dhotre, Harshad
 and 

Eggersglüß, Stephan
 and 

Drechsler, Rolf
},
    title = {IR-drop Prediction of Test Patterns Using Parasitic Elements},
    booktitle = {31. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2019), February 24-26, Prien am Chiemsee, Germany},
    year = {2019}
}