Publikation

SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation

Stephan Eggersglüß, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen

In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21) befindet sich 21st May 24-27 Amsterdam Netherlands 2016.

Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz
German Research Center for Artificial Intelligence