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Publikationen

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  1. Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler

    Enhanced Embedded Test Compression Technique For Processing Incompressible Test Patterns

    In: 31.GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2019), February 24-26, Prien am Chiemsee, Germany, 2019.

  2. Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Krishnendu Chakrabarty; Rolf Drechsler

    Machine Learning-based Prediction of Test Power

    In: 24th IEEE European Test Symposium (ETS 19). IEEE European Test Symposium (ETS-2019), May 27-31, Baden Baden, Germany, 2019.

  3. Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler; Mehdi Dehbashi; Ulrike Pfannkuchen

    ATPG Constraint Analysis for Reducing Regional Power Activity

    In: 30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2018), March 4-6, Freiburg im Breisgau, Germany, 2018.

  4. Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Krishnendu Chakrabarty; Rolf Drechsler

    Optimization of Retargeting for IEEE 1149.1 TAP Controllers with Embedded Compression

    In: Design, Automation and Test in Europe (DATE). Design, Automation & Test in Europe (DATE-2017), March 27-31, Lausanne, Switzerland, 2017.

  5. Harshad Dhotre; Stephan Eggersglüß; Mehdi Dehbashi; Ulrike Pfannkuchen; Rolf Drechsler

    Machine Learning Based Test Pattern Analysis for Localizing Critical Power Activity Areas

    In: 30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-2017), October 23-25, Cambridge, United Kingdom, 2017.

  6. Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler

    Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE-1149.1-kompatible Testschnittstellen

    In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28), March 6-8, Siegen, Germany, 2016.

  7. Stephan Eggersglüß

    Eliminierung von energieunsicheren Tests in kompakten Testmengen

    In: 28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28), March 6-8, Siegen, Germany, 2016.

  8. Sebastian Huhn; Stephan Eggersglüß; Rolf Drechsler

    VecTHOR: Low-cost compression architecture for IEEE-1149.1-compliant TAP controllers

    In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21), 21st, May 24-27, Amsterdam, Netherlands, 2016.

  9. Stephan Eggersglüß; Kohei Miyase; Xiaoqing Wen

    SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in At-Speed Scan Test Generation

    In: 21st IEEE European Test Symposium. IEEE European Test Symposium (ETS-21), located at 21st, May 24-27, Amsterdam, Netherlands, 2016.

  10. Stephan Eggersglüß; Kenneth Schmitz; Rene Krenz-Baath; Rolf Drechsler

    On Optimization-based ATPG and its Application for Highly Compacted Test Sets

    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), 2016.