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Marie-Helene Stoltz; Vaggelis Giannikas; Duncan Mcfarlane; James Strachan; Jumyung Um; Rengarajan Srinivasan
In: IFAC-PapersOnLine, Vol. 50, No. 1, Pages 12979-12984, Elsevier, 2017.
Hristina Uzunova; Matthias Wilms; Heinz Handels; Jan Ehrhardt
In: Maxime Descoteaux; Lena Maier-Hein; Alfred Franz; Pierre Jannin; D. Louis Collins; Simon Duchesne (Hrsg.). Medical Image Computing and Computer …
Fraser Bowen; Jon Dehdari; Josef van Genabith
In: The Third Workshop on Noisy User-generated Text (W-NUT 2017) - Proceedings of the Workshop. Workshop on Noisy User-generated Text (NUT-2017), …
Nijat Mehdiyev; Johannes Lahann; Andreas Emrich; David Enke; Peter Fettke; Peter Loos
In: . (Hrsg.). Procedia Computer Science. Complex Adaptive Systems (CAS-2017), USA, Pages 242-249, Vol. 114, 2017.
Daniel Porta
PhD-Thesis, Universität des Saarlandes, 2017.
Christoph Zetzsche; Ruth Rosenholtz; Noshaba Cheema; Konrad Gadzicki; Lex Fridman; Kerstin Schill
In: Vision Science Society (Hrsg.). MODVIS. Computational and Mathematical Models in Vision (MODVIS-2017), located at Vision Sciences Society Annual …
Mathias Soeken; Pierre-Emmanuel Gaillardon; Saeideh Shirinzadeh; Rolf Drechsler; Giovanni De Micheli
In: Computers, Vol. 6, Pages 35-40, IEEE, 2017.
Andreas Schoknecht; Tom Thaler; Peter Fettke; Andreas Oberweis; Ralf Laue
In: ACM Computing Surveys (CSUR), Vol. 50, No. 4, Pages 52:1-52:33, ACM New York, New York, NY, USA, 8/2017.
Arighna Deb; Robert Wille; Rolf Drechsler
In: International Conference on Computer Aided Design (ICCAD). IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD-2017), November …
Frank Sill Torres; Pedro F. R. Leite Junior; Rolf Drechsler
In: 30th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault …
